一种花键检测平行度和高度检测结构
授权
摘要

本实用新型提供一种花键检测平行度和高度检测结构,包括检测支撑立柱,所述检测支撑立柱上端设有检测支撑板,所述检测支撑板上设有检测升降气缸,检测升降气缸的缸体通过气缸固定座安装在检测支撑板上,所述检测升降气缸的输出端上安装有固定座驱动杆,所述固定座驱动杆下端设有传感器固定座,所述传感器固定座上设有传感器固定板,所述传感器固定板上设有若干位移传感器,传感器固定板下侧设有工件放置板,工件放置板下端安装在放置板安装架上,所述工件放置板一侧设有产品在位检测传感器I、另一侧设有产品在位检测传感器II。解决的因为人工导致的品质不稳定性隐患,实现高速稳定的检测。

基本信息
专利标题 :
一种花键检测平行度和高度检测结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020580265.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-18
授权号 :
CN211504067U
授权日 :
2020-09-15
发明人 :
佟熠
申请人 :
上海熠泰智能测控技术有限公司
申请人地址 :
上海市宝山区宝杨路1800号2号楼A608室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202020580265.4
主分类号 :
G01B21/08
IPC分类号 :
G01B21/08  G01B21/22  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B21/08
用于计量厚度
法律状态
2020-09-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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