一种双测距监测物体位移或变形的系统
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摘要

一种双测距监测物体位移或变形的系统,包括分别设置在多个物体监测点上的多个定位监测装置,定位监测装置包括无线测距收发模块、光测距收发模块、处理模块和告警模块,无线测距收发模块进行各个物体监测点之间距离的无线测距,光测距收发模块进行各个物体监测点之间距离的光学测距,处理模块根据物体监测点之间的无线测距结果和光测距结果,判断对应的物体发生了位置移动或物体的对应部位上发生了变形时触发所述告警模块发出报警,并通过无线测距测量出位移或变形数据。本系统既能够确保精准地测出物体是否发生位移或变形,又解决了光学测距难以确定位移/变形量的不足。此外,还提高了物体监测的准确性,大大减少了误报,降低了人工成本。

基本信息
专利标题 :
一种双测距监测物体位移或变形的系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020617125.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-22
授权号 :
CN211855195U
授权日 :
2020-11-03
发明人 :
梁新汉梁政邱孝扬
申请人 :
深圳市汉明电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市福田区福华路318号福金苑10A
代理机构 :
深圳新创友知识产权代理有限公司
代理人 :
王震宇
优先权 :
CN202020617125.X
主分类号 :
G01B7/02
IPC分类号 :
G01B7/02  G01B7/16  G01B11/02  G01B11/16  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-11-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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