用于超声波气表的测量管体结构
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于超声波气表的测量管体结构，其包括：一第一端口气舱、一第二端口气舱、一直线型测量管、一第一超声波传感器、一第二超声波传感器以及密封螺栓；所述第一超声波传感器和所述第二超声波传感器的中心轴线，与所述直线型测量管的中心轴线重合。本实用新型通过超声波气表两端设计的端口气舱进行缓冲，保证测量管路内气流稳定；利用直线型测量管路进行测量，流速测量灵敏度高，超声波气表流量测量的准确性好；外形简单，易于加工和装配，并具有良好的密封效果。
基本信息
专利标题 ：
用于超声波气表的测量管体结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020638140.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-24
授权号 ：
CN212340336U
授权日 ：
2021-01-12
发明人 ：
彭黎辉马浩程曹丽杉亮一清水和义高桥刚
申请人 ：
清华大学;东京计装株式会社
申请人地址 ：
北京市海淀区北京100084-82信箱
代理机构 ：
深圳市鼎言知识产权代理有限公司
代理人 ：
张利杰
优先权 ：
CN202020638140.2
主分类号 ：
G01F1/66
IPC分类号 ：
G01F1/66 G01F15/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01F
容积、流量、质量流量或液位的测量；按容积进行测量
G01F1/00
测量连续通过仪表的流体或流动固体材料的流量或质量流量
G01F1/66
通过测量电磁波或其他波的频率、相位移或传播时间，例如，超声波流量计
法律状态
2021-01-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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