一种用于PCB板测试的防错结构
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于PCB板测试的防错结构，属于机械技术领域。包括测试结构和安装于所述测试结构上的防错结构，所述防错结构包括左侧防错结构和右侧防错结构，所述右侧防错结构通过固定结构连接到所述测试结构上，所述测试结构包括测试箱体，所述测试箱体的底部设置有多个支撑杆。本实用新型的有益之处是：将待检测的PCB板固定到左侧防错板的侧边，然后根据实际需要在左侧探针孔和右侧探针孔里分别放置探针感应杆和探针，如果防错结构发生错配，那么左侧防错结构和右侧防错结构就不能吸合到一起，从而无法进行检测，进而防止出现配错的问题，本实用新型结构新颖，操作方便。
基本信息
专利标题 ：
一种用于PCB板测试的防错结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020678020.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-28
授权号 ：
CN212134884U
授权日 ：
2020-12-11
发明人 ：
徐晶晶
申请人 ：
苏州市德智电子有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区何山路368号5栋苏州市德智电子有限公司
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020678020.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-12-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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