一种高精度测量的教学工具显微镜
授权
摘要

本实用新型公开了一种高精度测量的教学工具显微镜,包括底座主体,底座主体的顶端一侧设置有支撑臂,支撑臂的顶端一侧设置有目镜,目镜的底端连接有镜筒,镜筒的底端设置有物镜,底座主体的顶端中央安装有升降调节座,升降调节座的顶端连接有置物架,置物架的顶端设置有限位镜,且位于物镜的底部。本实用新型是一种高精度测量的教学工具显微镜,该设备可以有效解决显微镜的使用问题,该显微镜采用新型的检测结构,在检测过程中,对检测物具有一定的防护效果,方便进行调节,可对检测环境进行实时监测,且可对温湿度进行一定范围上的控制,使检测更加的精细,减小误差,实用性强。

基本信息
专利标题 :
一种高精度测量的教学工具显微镜
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020700156.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-30
授权号 :
CN212207833U
授权日 :
2020-12-22
发明人 :
夏儒亮
申请人 :
河南工程学院
申请人地址 :
河南省郑州市新郑市龙湖镇祥和路1号
代理机构 :
合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
宋萍
优先权 :
CN202020700156.1
主分类号 :
G02B21/24
IPC分类号 :
G02B21/24  G02B21/26  G02B21/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B21/00
显微镜
G02B21/24
底座结构
法律状态
2020-12-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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