本实用新型涉及一种模拟GIS内部触头接触不良的试验装置，包括壳体以及壳体内的动导体、梅花触头、静导体和绝缘子，壳体包括圆筒、底盖和封盖，绝缘子为圆柱形且一端设有第一凸起，底盖一端开有与绝缘子形状相同的第一凹槽，该第一凹槽底部设有与第一凸起形状相同的第三通孔，绝缘子和第一凸起对应置于第一凹槽和第三通孔内，绝缘子上设有贯穿绝缘子和第一凸起的第一螺纹孔，封盖上开有第一通孔且通过螺栓同轴固定在底盖上开有第一凹槽的一侧，动导体和静导体分别穿过第一通孔并通过第一螺纹孔与绝缘子螺纹连接，圆筒焊接在2个封盖之间。与现有技术相比，本实用新型具有稳定性强、安全性高和精度高等优点。