一种用于发射箱密封盖薄弱区样件的加载试验装置
授权
摘要
本实用新型属于发射箱材料老化性能检验技术领域，具体公开了一种用于发射箱密封盖薄弱区样件的加载试验装置，包括：工装主体，工装主体包括第一平板、第二平板和支撑杆；支撑杆的数量为多个，多个支撑杆的两端分别与第一平板和第二平板连接，且连接之后的第一平板和第二平板相互平行；第一限位部，第一限位部设于第一平板上，适于与发射箱密封盖薄弱区样件的下端连接；第二限位部，第二限位部竖向安装于第二平板上，并可相对于第二平板上下移动；第二限位部适于与发射箱密封盖薄弱区样件的上端连接。通过上述结构的设置，能够模拟发射箱密封盖薄弱区样件的承压状况，从而更好的预测产品在环境因素影响下密封盖薄弱区结构寿命的变化情况。
基本信息
专利标题 ：
一种用于发射箱密封盖薄弱区样件的加载试验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020714697.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-30
授权号 ：
CN212621888U
授权日 ：
2021-02-26
发明人 ：
陈博唐泽辉安昕张鑫玉闫承磊孟宪慧孟豪宇
申请人 ：
北京玻钢院复合材料有限公司
申请人地址 ：
北京市延庆区八达岭经济开发区康西路261号
代理机构 ：
北京力量专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
徐颖超
优先权 ：
CN202020714697.X
主分类号 ：
G01N3/08
IPC分类号 ：
G01N3/08 G01N3/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/00
用机械应力测试固体材料的强度特性
G01N3/08
施加稳定的张力或压力
法律状态
2021-02-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
