一种缺陷磁痕测量系统
授权
摘要
本申请涉及一种缺陷磁痕测量系统，该系统包括：采集单元，用于采集磁化后的被检件的图像信息；识别单元，用于判断图像信息中是否存在缺陷磁痕，获取缺陷磁痕检测结果；控制器，用于根据缺陷磁痕检测结果，确定缺陷磁痕的长度。本申请提供的技术方案，实现了缺陷磁痕测量的自动化，提高了缺陷磁痕测量的可靠性和准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种缺陷磁痕测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020740161.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-07
授权号 ：
CN212083317U
授权日 ：
2020-12-04
发明人 ：
陈新波李小丽汪占彬李春
申请人 ：
中国人民解放军海军航空大学青岛校区;秦皇岛市盛通无损检测有限责任公司
申请人地址 ：
山东省青岛市李沧区四流中路2号
代理机构 ：
北京细软智谷知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
岳凤羽
优先权 ：
CN202020740161.5
主分类号 ：
G01N27/84
IPC分类号 ：
G01N27/84
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/626
应用加热电离气体
G01N27/72
通过测试磁变量
G01N27/82
用于测试缺陷的存在
G01N27/83
通过测试杂散磁场
G01N27/84
通过利用磁性粉末或磁性墨水
法律状态
2020-12-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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