连接制冷或制热设备的温控测试系统
授权
摘要

一种连接制冷或制热设备的温控测试系统,其包括:温度控制模块、温度测试模块,温度控制模块、输液管及电源供应模块,机台的外周壁上组设温度调节单元及温度显示单元,容置槽中储存工作液体,工作液体的温度介于0度至50度的间,壳体的周壁上组接测试温度显示单元及测试温度调节单元,壳体的一侧设置载台,载台放置待测物,壳体内设置制冷芯片及水冷排结构,制冷芯片的工作温度介于负50度至170度的间,输液管其中一端组接水冷排结构,而另一端设置在工作液体中,容置槽与该水冷排结构相连通,并且形成循环回路;借此,本实用新型使用制冷芯片作为温控组件,以致提升控温的精准度和温度均匀性。

基本信息
专利标题 :
连接制冷或制热设备的温控测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020742758.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-08
授权号 :
CN212749144U
授权日 :
2021-03-19
发明人 :
张宝曜张宝杰江明翰
申请人 :
博斯科技股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾新竹县
代理机构 :
北京银龙知识产权代理有限公司
代理人 :
许静
优先权 :
CN202020742758.3
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G05D23/19  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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