一种TDLAS激光分析仪的赫里奥特池长光程气室结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种TDLAS激光分析仪的赫里奥特池长光程气室结构，包括入射端组件、气室管组件、反射端组件、加热组件、底部安装板，所述入射端组件、气室管组件、反射端组件、加热组件均固定于底部安装板上。提出一种TDLAS激光分析仪的赫里奥特池长光程气室结构，在对气室内部反射镜片进行维护时不需要拆卸光路结构组件，从而避免影响赫里奥特池光路，使现场镜片维护变得切实可行；在对气室进行加热后，气室组件的膨胀不会使赫里奥特池光路结构件受力，从而避免影响赫里奥特池光路的稳定性。
基本信息
专利标题 ：
一种TDLAS激光分析仪的赫里奥特池长光程气室结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020754376.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-09
授权号 ：
CN212459404U
授权日 ：
2021-02-02
发明人 ：
刘飞黄文攀蒋泰毅蔡磊
申请人 ：
武汉晟诺仪器科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区佛祖岭三路28号高新二期（新厂一期）建设项目质检研发工艺和电子装配楼101#建筑A区4楼
代理机构 ：
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 ：
邓凌云
优先权 ：
CN202020754376.2
主分类号 ：
G01N21/39
IPC分类号 ：
G01N21/39 G01N21/03 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
G01N21/39
利用可调谐的激光器
法律状态
2021-02-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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