日照立面高度斜率尺
授权
摘要
本实用新型涉及一种日照立面高度斜率尺。它解决了现有的技术在测量前后相邻楼层的高度斜率时操作复杂且准确率不佳的问题，它包括棒影图板装置，棒影图板装置一侧设有水平距离图板，棒影图板装置一端与水平距离图板一端相互连接，棒影图板装置与水平距离图板相连的一端纵向设有第一建筑物，水平距离图板上设有与第一建筑物相互平行的第二建筑物，棒影图板装置与水平距离图板相连的一端通过螺钉转动设有可沿棒影图板装置周向外壁移动的指针装置，棒影图板装置一端设有与指针装置呈同轴设置的量角器，棒影图板装置另一端设有日照时间带机构，指针装置一端与日照时间带机构滑动相连。本实用新型的优点在于：测量数据准确且操作便捷。
基本信息
专利标题 ：
日照立面高度斜率尺
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020760552.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-09
授权号 ：
CN211717431U
授权日 ：
2020-10-20
发明人 ：
樊豪君许仙桃
申请人 ：
上海天华崧易建筑设计有限公司
申请人地址 ：
上海市青浦区赵巷镇嘉松中路5399号3幢B8-4F-D区201室
代理机构 ：
浙江永鼎律师事务所
代理人 ：
陆永强
优先权 ：
CN202020760552.3
主分类号 ：
G01C9/00
IPC分类号 ：
G01C9/00 G01W1/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C9/00
测量倾斜度，例如应用倾斜仪，应用水准器
法律状态
2020-10-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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