一种开口式环形磁栅检测装置和电梯
授权
摘要
本申请公开了一种电梯和一种磁栅检测装置，所述磁栅检测装置包括磁栅尺及至少有两个的读头组件和感应开关。所述读头组件设置于磁栅尺外侧，读头组件的工作面与磁栅尺的工作面相对应；所述感应开关设置为随着磁栅尺转动并切换读头组件的工作状态；感应开关位置与磁栅尺缺口的位置相对应，两个读头组件的间距大于或等于所述缺口的距离。本申请通过将磁栅尺开设一个缺口，只需将缺口撑开套进待检测设备中即可，从而使得拆装更加方便，再以两个读头组件和感应开关来协同读取转盘位移数据，避开磁栅尺缺口对连续转动数据读取的影响，确保磁栅检测装置的开口特性与工作准确性和稳定性。
基本信息
专利标题 ：
一种开口式环形磁栅检测装置和电梯
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020761571.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-09
授权号 ：
CN213021415U
授权日 ：
2021-04-20
发明人 ：
杨革文
申请人 ：
深圳市一号楼科技发展有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽街道朗山路16号华瀚创新园办公楼D座310室
代理机构 ：
深圳市博衍知识产权代理有限公司
代理人 ：
曾新浩
优先权 ：
CN202020761571.8
主分类号 ：
G01B7/00
IPC分类号 ：
G01B7/00 G01B7/02 B66B5/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
法律状态
2021-04-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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