一种测厚仪专用扫描支架
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摘要
本实用新型公开了一种测厚仪专用扫描支架，包括底座，所述底座两端分别设有左支撑架和右支撑架，所述左支撑架和右支撑架上端连接着上支架，所述底座上设有下滑轨，所示上支架设有上滑轨，所述上滑轨与上支架之间设有磁铁片，所述下滑轨与底座之间设有磁铁片，所述下滑轨上设有扫描装置一，所述上滑轨上设有扫描装置二，所述扫描装置一和扫描装置二通过滑轮与上滑轨和下滑轨相连接，所述左支撑架和右支撑架上分别设有工作台一和工作台二，所述左支撑架和右支撑架的上下两端分别设有防撞击垫片，所述防撞击垫片与扫描装置一和扫描装置二相对应，本实用新型结构简单，设计新颖，确保测厚仪的工作稳定性，大大提高了扫描测量的精度。
基本信息
专利标题 ：
一种测厚仪专用扫描支架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020767398.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-11
授权号 ：
CN212340206U
授权日 ：
2021-01-12
发明人 ：
朱卫民李蔚森
申请人 ：
马鞍山恒瑞测量设备有限公司
申请人地址 ：
安徽省马鞍山市花山区银杏大道717号5-1-全部
代理机构 ：
北京纽盟知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
许玉顺
优先权 ：
CN202020767398.2
主分类号 ：
G01B21/08
IPC分类号 ：
G01B21/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B21/08
用于计量厚度
法律状态
2021-01-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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