地物光谱仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种地物光谱仪，包括地物光谱仪本体设置在第一侧面的测距传感器、探测头，设置于地物光谱仪内的角度传感器、控制器以及设置于第二侧面上的显示屏；其中，控制器与测距传感器、探测头、角度传感器以及显示屏均电连接。本实用新型通过增加角度传感器和测距传感器，能在探测的同时准确的获取被测区域的面积以及探测的高度信息和角度信息。
基本信息
专利标题 ：
地物光谱仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020770076.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-11
授权号 ：
CN212134475U
授权日 ：
2020-12-11
发明人 ：
刘鸿飞洪鹏林彭万佳
申请人 ：
奥谱天成（厦门）光电有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市集美区中科院稀土研究所1号楼7层
代理机构 ：
厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
郭福利
优先权 ：
CN202020770076.3
主分类号 ：
G01N21/27
IPC分类号 ：
G01N21/27 G01B11/28 G01B11/14 G01B11/06 G01C1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/27
利用光电检测
法律状态
2020-12-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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