一种宽频天线测量系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种宽频天线测量系统及测试方法，涉及天线测量领域，其技术方案要点是包括间隔设置的多探头检测点和单探头检测点、在多探头检测点和单探头检测点之间移动且至少可旋转一周的承载台、环绕多探头检测点设置的多探头阵列检测装置、以及位于多探头阵列检测装置一侧并围绕单探头检测点设置的单探头检测装置，多探头阵列检测装置包括一组或多组呈环形阵列分布的第一探头，单探头检测装置包括围绕单探头检测点作圆弧形运动的第二探头，第一探头用于检测第一频段范围内的待测物的辐射性能，第二探头用于检测第一频段范围外的待测物的辐射性能，其技术效果是具有测量效率高的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种宽频天线测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020835816.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-18
授权号 ：
CN212301697U
授权日 ：
2021-01-05
发明人 ：
陈林斌谢镇坤孙赐恩蒋宇
申请人 ：
深圳市新益技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区华联工业区5号2层二单元
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020835816.7
主分类号 ：
G01R29/10
IPC分类号 ：
G01R29/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2021-01-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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