一种用于陶瓷导纱器加工检测的尺寸测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于陶瓷导纱器加工检测的尺寸测量装置，包括测量装置主体，所述测量装置主体的上端外表面设置有可调节支撑架，所述可调节支撑架的一侧外表面设置有测量台，所述测量台的上端外表面设置有定位块，所述测量台的一侧外表面设置有显示板，所述测量装置主体的下端外表面设置有升降调节器，所述升降调节器的下端外表面设置有底柜。本实用新型所述的一种用于陶瓷导纱器加工检测的尺寸测量装置，通过设计的可调节支撑架，能提升装置在操作过程中的便捷性与实用性，能调节灯光照射范围，使尺寸的测量更加方便与准确,通过设计的升降调节器，能控制台面的升降，使装置的操作更加方便，带来更好的使用前景。
基本信息
专利标题 ：
一种用于陶瓷导纱器加工检测的尺寸测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020857628.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-21
授权号 ：
CN212058682U
授权日 ：
2020-12-01
发明人 ：
韩政褀
申请人 ：
苏州市永祺瓷业有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区胥口镇合丰路306号
代理机构 ：
苏州简专知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李正方
优先权 ：
CN202020857628.4
主分类号 ：
G01B21/00
IPC分类号 ：
G01B21/00 F21V33/00 F21V21/14 F21V14/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
法律状态
2020-12-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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