一种微米级精准位移准直器
授权
摘要
本实用新型公开了一种微米级精准位移准直器，包括测井、位于所述测井上的位移组件以及位于所述位移组件末端的驱动组件；所述测井上设有测井通孔，所述位移组件包括滑块与位于所述滑块上的多孔准直器，所述多孔准直器上设有不同规格的准直孔，所述准直孔与所述测井通孔位置对应，所述驱动组件包括驱动电机、位于所述驱动电机转轴端的螺杆以及能够沿所述螺杆长度方向进行运动的螺纹传动块，所述螺纹传动块与所述滑块相连。本实用新型在测井、位移组件以及驱动组件的配合作用下，实现了对不同规格准直孔的有序切换，通过切换不同规格的准直孔，能够在同一台X荧光光谱仪上测量多种面积的样品，满足了多种样品的测量需求，提高了通用性。
基本信息
专利标题 ：
一种微米级精准位移准直器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020857808.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-21
授权号 ：
CN212083282U
授权日 ：
2020-12-04
发明人 ：
马云
申请人 ：
江苏一六仪器有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山市玉山镇成功路168号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020857808.2
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-12-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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