一种基于光照放大原理的孔位偏差测试仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于光照放大原理的孔位偏差测试仪，包括底板，所述底板的一端设有结果观测板，另一端设有光源固定板，所述结果观测板上设有标准圆，所述光源固定板上设有光源，所述底板侧边设有工件固定件。本实用新型，利用光照放大的原理，将孔位大小位置，放大进行观察，减小了肉眼观察的难度。与标准值的位置进行比较，一目了然，判断方便。本实用新型的成本较低，适合推广。
基本信息
专利标题 ：
一种基于光照放大原理的孔位偏差测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020869716.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-21
授权号 ：
CN212274861U
授权日 ：
2021-01-01
发明人 ：
邱小川谢爱民
申请人 ：
扬州康派尔机械科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省扬州市经济开发区洞庭湖路科技创业中心科研楼内
代理机构 ：
南京苏创专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王华
优先权 ：
CN202020869716.6
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 G01B11/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2021-01-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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