基于DIC技术的力学性能测试装置及系统
授权
摘要
本实用新型涉及常低温力学性能测试领域，公开了基于DIC技术的力学性能测试装置及系统。该装置包括罩体、试样腔和温控机构，试样腔的下部置于罩体内部，用于放置试样，且在试样腔的下部设置第一窗口，在罩体设置第二窗口，以形成光路，温控机构用于调控试样的测试温度。该系统包括光源、图像采集装置、力学试验机和本基于DIC技术的力学性能测试装置，光源和图像采集装置分别与第二窗口相对设置，力学试验机的拉伸杆伸入试样腔内并与试样连接。本实用新型将低温力学测试和DIC技术结合起来，实现了非接触光学测量，具有操作步骤简单、高准确性、测量范围广的优点。
基本信息
专利标题 ：
基于DIC技术的力学性能测试装置及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020893143.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-25
授权号 ：
CN212568294U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
吴姗姗张恒成李来风周远黄荣进黄传军李山峰任小红
申请人 ：
中国科学院理化技术研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村东路29号
代理机构 ：
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 ：
周琦
优先权 ：
CN202020893143.0
主分类号 ：
G01N3/18
IPC分类号 ：
G01N3/18 G01N3/06 G01N3/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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