一体式性能测试装置
授权
摘要
本实用新型旨在提供一种既能够节省空间、便于维护，又能够大大提高测试效率的一体式性能测试装置。本实用新型包括机座、载板模组、针板测试模组、下压机构以及连接器测试模组，所述针板测试模组和所述下压机构均设置在所述机座上，所述下压机构位于所述针板测试模组的上方，所述连接器测试模组设置在所述下压机构上，所述载板模组滑动配合在所述机座上，当所述载板模组上的待测电路板位于所述针板测试模组和所述下压机构之间时，所述下压机构将待测电路板下压至所述针板测试模组上，所述连接器测试模组的作用端适配在待测电路板的接口上。本实用新型应用于电路板的测试领域。
基本信息
专利标题 ：
一体式性能测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020906287.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-26
授权号 ：
CN212749146U
授权日 ：
2021-03-19
发明人 ：
向玉才韦黄镇邝家辉祝国昌张琛星
申请人 ：
欧拓飞科技（珠海）有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市高新区金鼎科技八路9号（1号厂房）4楼
代理机构 ：
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 ：
王贤义
优先权 ：
CN202020906287.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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