采用针盘后推压紧方式的IED柔性测试系统用连接机构
授权
摘要

本实用新型涉及一种采用针盘后推压紧方式的IED柔性测试系统用连接机构,本申请测试机架型材边框内有测试机台底座,测试机台底座上有测试机架底板,测试机架底板中部内有安装槽,测试机架底板上方各有一个滑道,滑道上有托盘底座,测试机架底板的安装槽内有前后方向滑动气缸,前后方向滑动气缸安装在托盘底座底部,托盘安装在托盘底座上,压紧装置机构在托盘上方且两侧通过压紧机构的下压气杆固定在测试机架底板上,压紧装置机构后侧安装有背部受力支撑架,针盘安装在针盘底座上,针盘底座安装在气缸的支撑杆的端部,气缸安装背部受力支撑架内。本申请针盘置于后方的优点是方便使用者可以观察到被测装置所有的工作状态,也方便将自动按键和影像识别的安装。

基本信息
专利标题 :
采用针盘后推压紧方式的IED柔性测试系统用连接机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020908464.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-26
授权号 :
CN213041927U
授权日 :
2021-04-23
发明人 :
沈小晴樊江波
申请人 :
南京亚尔软件测试有限公司;沈小晴;樊江波
申请人地址 :
江苏省南京市浦口区顶山都市产业园02幢101室
代理机构 :
南京众联专利代理有限公司
代理人 :
蒋昱
优先权 :
CN202020908464.3
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-04-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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