覆膜铁卷径测量装置

授权

摘要

本实用新型提供了一种覆膜铁卷径测量装置，所述装置包括：导轨，位于所述覆膜铁卷的上方；两滑杆，均嵌设于所述导轨且能够在所述导轨上滑动，以使所述两滑杆分别与所述覆膜铁卷的外表面相接触或分离，测距仪，设于一所述滑杆上；凹陷部，用于支撑所述覆膜铁卷，所述凹陷部的上表面具有成角度的第一表面和第二表面，所述第一表面和第二表面的交线与所述覆膜铁卷的轴线平行；在所述装置沿高度方向的截面中，所述覆膜铁卷的中心点位于所述凹陷部的中心线的延长线上；以及升降机构，位于所述凹陷部的下方，用于调节所述凹陷部的高度；本实用新型提高了对覆膜铁卷的卷径测量准确度以及测量效率。

基本信息

专利标题：

覆膜铁卷径测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020939966.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-05-28

授权号：

CN211954088U

授权日：

2020-11-17

发明人：

文元庆邹斌涂伯乐丁炜明

申请人：

上海联净复合材料技术有限公司

申请人地址：

上海市闵行区东川路555号丙楼1121室

代理机构：

上海隆天律师事务所

代理人：

钟宗

优先权：

CN202020939966.2

主分类号：

G01B21/10

IPC分类号：

G01B21/10