本实用新型适用于贵金属检测辅助设备技术领域，提供了一种利用X射线对贵金属表面成分分析的仪器，包括金属成分分析仪和输送装置；金属成分分析仪为包括壳体、X射线发生器和与所述X射线发生器对应的荧光光谱仪；所述输送装置滑动穿透所述金属成分分析仪下方；所述输送装置包括输送带和料盘，所述料盘下端一侧铰接所述输送带，所述料盘另一端设有复位弹簧，所述壳体上设有若干个伸缩导杆，且所述荧光光谱仪和伸缩导杆均连接控制系统。借此，本实用新型通过在金属成分分析仪的下端设置输送装置，在检测金属各组分含量的同时，还可以满足对快速筛选的需要。