本实用新型涉及电子测试技术领域，具体涉及单蛇形弹片针，包括弹片针本体，弹片针头部，弹片针尾部，所述弹片针本体为单根弯曲的蛇形弹片组成，所述弹片针本体的首端与弹片针头部连接，所述弹片针本体的末端与弹片针尾部连接，弹片针头部、弹片针本体和弹片针尾部一体成型，所述弹片针头部的远离弹片针本体的一侧设有测试体接触端，所述弹片针尾部远离弹片针本体的一侧的设有导通接触端。本实用新型所要解决的技术问题：在半导体导通测试中提供使用寿命长，测试精度较高并且便于更换的单蛇形弹片针。