一种数显表测试仪
授权
摘要
本实用新型涉及一种数显表测试仪,其中,包括底座,所述底座上端面设置有测试台和固定架,所述固定架和所述测试台垂直设置,所述固定架上设置有多个探针,所述探针一端延伸至所述测试台上方,另一端和直流电源相连接,所述直流电源上还设置有调节按钮,所述测试台上端面还包括有滑槽和放置区;将待测试的数显表放入测试台上,再将探针对准测试点,调节直流电源上的按钮,观察数显表显示屏上的数值,观察数值与预期数值是否一致,若在允许误差内,则说明数显表无问题,如若误差加大,则说明为不良品,需要进一步的检测,测试过程简单易操作,待测试数显表不需进行其他固定,且不需要进行数值记录,只需进行对比就可以检测成功,效率较高。
基本信息
专利标题 :
一种数显表测试仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020952535.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-29
授权号 :
CN212483730U
授权日 :
2021-02-05
发明人 :
金慧峰周晨
申请人 :
苏州创泰电子有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市太仓市城厢镇城区工业园(东港村)
代理机构 :
苏州根号专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
项丽
优先权 :
CN202020952535.X
主分类号 :
G01R31/01
IPC分类号 :
G01R31/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试,例如在成批生产中的“过端—不过端”测试;当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2021-02-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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