一种用于检测双面加工异形产品的检具
授权
摘要
本实用新型涉及精密零件加工领域，特别是一种用于检测双面加工异形产品的检具,其独到之处在于：所述检具由上部检具及下部检具组成，所述上部检具由上盖及一系列设于上盖底部的检测棒组成，所述下部检具上部设有一系列检测孔。本实用新型的优点在于：可快速检测双面加工异形产品的配合度、位置度。
基本信息
专利标题 ：
一种用于检测双面加工异形产品的检具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020953561.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-29
授权号 ：
CN212227914U
授权日 ：
2020-12-25
发明人 ：
杨伟平
申请人 ：
武汉贝特尔科技有限责任公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市洪山区青菱湖北路银湖科技城42栋
代理机构 ：
武汉天力专利事务所
代理人 ：
冯卫平
优先权 ：
CN202020953561.4
主分类号 ：
G01B5/00
IPC分类号 ：
G01B5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2020-12-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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