一种电子产品性能测试装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种电子产品性能测试装置,包括装置体,所述装置体上设置有测试架,且测试架上设置有安装架,所述装置体上表面设置有限位杆,且限位杆设置在测试架内侧,所述装置体的上滑动连接有置物台,且置物台下端与传动轴相连接,所述传动轴下端贯穿装置体的上表面,且传动轴之间通过同步带相连接,左侧的所述传动轴与电动机相连接,且电动机设置在装置体内。该电子产品性能测试装置,测试探头和外界测试设备之间电连接,将电子产品安装在安放架上,通过第二电动伸缩杆推动安装架,在定位孔和限位杆的作用下,使得测试探头和电子产品接触,通过外界测试设备对电子产品进行性能测试,避免人工手动接线,提高测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种电子产品性能测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020973492.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-02
授权号 :
CN212514685U
授权日 :
2021-02-09
发明人 :
刘曜轩
申请人 :
苏州威达智电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市相城区渭塘镇凤南路99号智汇云集产业园1栋2楼H区
代理机构 :
苏州创策知识产权代理有限公司
代理人 :
范圆圆
优先权 :
CN202020973492.3
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-02-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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