测量辅助装置
授权
摘要
本实用新型公开一种测量辅助装置,所述测量辅助装置包括基座、定位结构、多个弹性支撑件以及多个夹持件,定位结构设于基座的上端面,定位结构上形成多个定位位置,用以供工件限位;每一弹性支撑件沿竖直向延伸且长度可伸缩设置,并活动安装于定位结构而具有自初始位置移动至定位位置的活动行程,用以在定位位置对工件进行弹性支撑,其中的多个弹性支撑件为多个第一支撑件;多个夹持件对应设于多个第一支撑件,每一夹持件具有位于第一支撑件上方的夹持头,夹持头的下端面与第一支撑件的上端面之间形成夹持空间,用于夹持固定工件。本实用新型提供的测量辅助装置,在固定具有不平整面的工件时,固定效果好。
基本信息
专利标题 :
测量辅助装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020999677.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-03
授权号 :
CN212341198U
授权日 :
2021-01-12
发明人 :
李迪周浩黎咏清
申请人 :
武汉华拓量测科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号武汉新能源研究院大楼A8-B-1506室
代理机构 :
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司
代理人 :
张小容
优先权 :
CN202020999677.1
主分类号 :
G01N33/20
IPC分类号 :
G01N33/20 G01B21/00 G01N3/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/20
•金属
法律状态
2021-01-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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