一种小型方块电阻测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种小型方块电阻测试装置,包括万用电表和测试盒,万用电表包括第一测试表笔和第二测试表笔,测试盒为绝缘体且为中空的腔体结构,测试盒顶部设有上下贯通的测试孔,两个测试孔间隔一定距离设置,测试盒底部设有上下贯通的通槽,两个通槽分别设在两个测试孔下方,测试盒内设有通过弹性件挂设的测试体,测试体为导电体,两个测试体分别设在两个测试孔下方,每一测试体顶部设有向下的凹槽,底部设有测试件,测试件与通槽位置相对,将第一测试表笔和第二测试表笔分别从两个测试孔穿过,分别按压两个凹槽,使两个测试体下降,进而使两个测试体分别穿过两个通槽,接触导电薄膜,结构简单,轻便小巧,使用方便。
基本信息
专利标题 :
一种小型方块电阻测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021000375.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-04
授权号 :
CN213364880U
授权日 :
2021-06-04
发明人 :
许扬施伟利
申请人 :
黄冈师范学院
申请人地址 :
湖北省黄冈市开发区新港二路146号
代理机构 :
武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
龚雅静
优先权 :
CN202021000375.5
主分类号 :
G01R27/02
IPC分类号 :
G01R27/02 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2021-06-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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