一种通用测试设备框架及测试设备

授权

摘要

本实用新型提供一种通用测试设备框架及测试设备，所述通用测试设备框架包括上固定部和下固定部，所述上固定部包括安装板，所述下固定部包括装配台，所述安装板与所述装配台相互平行设置，所述安装板与所述装配台之间连接有第一驱动组件，上针测试模组可拆卸地安装在所述安装板的开口处，下针测试模组可拆卸地安装在所述装配台底面的开口处。所述第一驱动组件带动所述上针测试模组向下压合测试载板，所述测试载板在所述上针测试模组的推动下继续向下压合所述下针测试模组进行测试。本申请的通用测试设备框架可以根据不同待测物的测试需求更换上针测试模组和下针测试模组或测试载板就可以满足不同的测试需求，不需要再重新采用其他的治具框架。

基本信息

专利标题：

一种通用测试设备框架及测试设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021005453.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-04

授权号：

CN212965278U

授权日：

2021-04-13

发明人：

黄庆云

申请人：

深圳市振云精密测试设备有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区107国道润东晟工业区13栋2层13栋1层B、13栋5层B、8栋1层

代理机构：

深圳市龙成联合专利代理有限公司

代理人：

陈丽燕

优先权：

CN202021005453.0

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28