一种图像扫描显微成像系统
授权
摘要

本实用新型提供了一种图像扫描显微成像系统,包括:激光扫描系统,用于生成照明激光,照明激光用于扫描样品,并用于出射样品因照明激光激发的反射光;光束采集装置,位于激光扫描系统的出射光路上,用于采集反射光;单点光电探测器阵列,包括多个单点光电探测器,单点光电探测器阵列位于光束采集装置的出射光路上,单点光电探测器阵列用于接收经过光束采集装置采集后的反射光,并生成多个光电信号。本实用新型的有益效果:能够进行快速、高分辨率的显微成像。

基本信息
专利标题 :
一种图像扫描显微成像系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021015946.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-05
授权号 :
CN212410444U
授权日 :
2021-01-26
发明人 :
王伟波吴必伟詹天鹏谭久彬
申请人 :
哈工大机器人(中山)无人装备与人工智能研究院
申请人地址 :
广东省中山市翠亨新区哈工大机器人集团智能装备产业园(三个五厂房D栋)
代理机构 :
北京隆源天恒知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
鲍丽伟
优先权 :
CN202021015946.2
主分类号 :
G01N21/47
IPC分类号 :
G01N21/47  G01N21/84  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射,即漫反射
法律状态
2021-01-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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