一种基于光阑空间调制的数字全息颗粒测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于光阑空间调制的数字全息颗粒测量装置:激光光源,用于产生激光束;空间滤波扩束单元,包括空间滤波器和扩束器,用于对激光束进行扩束和准直,形成准直光束;测量区,分布有待测颗粒,准直光束照射测量颗粒,颗粒发生散射形成物光,未经散射的直透光作为参考光;光阑调制单元,包括物光依次通过的第一透镜、光澜和第二透镜,对物光进行空间调制,使部分物光和参考光通过;图像记录单元,包括CCD或CMOS数字相机,用于记录颗粒的物光和参考光干涉形成的全息干涉条纹图像;数据处理单元,用于采集图像记录单元记录的颗粒全息图并重建,得到被测颗粒的信息。该装置可以实现对颗粒粒径的快速监测和降低颗粒间的相互重叠和干扰。
基本信息
专利标题 :
一种基于光阑空间调制的数字全息颗粒测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021024488.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-05
授权号 :
CN212658574U
授权日 :
2021-03-05
发明人 :
吴学成吴迎春姚龙超曾磊陈玲红高翔邱坤赞岑可法
申请人 :
浙江大学
申请人地址 :
浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
代理机构 :
杭州天勤知识产权代理有限公司
代理人 :
白静兰
优先权 :
CN202021024488.9
主分类号 :
G01N15/02
IPC分类号 :
G01N15/02 G01B9/021 G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2021-03-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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