一种半圆孔测量用检具

授权

摘要

本实用新型公开了一种半圆孔测量用检具，属于检具技术领域，解决了现有装置不能灵活的调节检测设备的位置，降低了检测效率的问题；其技术特征是：包括支撑柱和支撑横板，支撑柱的顶部固定安装有支撑横板，支撑横板上设有测量机构，测量机构包括调节组件、升降组件和检测组件，调节组件安装在支撑横板上，调节组件连接有升降组件，升降组件的一侧设有检测组件；本实用新型实施例设置了升降组件，能对检测组件的高度进行灵活的调节，进而适应不同环境下半圆孔的测量工作，且调节方便，操作简单，利于推广使用。

基本信息

专利标题：

一种半圆孔测量用检具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021030556.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-08

授权号：

CN212409653U

授权日：

2021-01-26

发明人：

束勇方

申请人：

江苏江大金属表面处理技术研究院有限公司

申请人地址：

江苏省盐城市大丰区经济开发区西康南路61号

代理机构：

北京艾皮专利代理有限公司

代理人：

冯铁惠

优先权：

CN202021030556.2

主分类号：

G01B21/00

IPC分类号：

G01B21/00