一种精确测定大气颗粒物采样膜沉积面积的装置
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摘要
本实用新型公开了一种精确测定大气颗粒物采样膜沉积面积的装置，其中，该装置包括依次顺序连接的样品采集模块、样品扫描模块、图像分析显示模块，该装置的工作流程如下：通过样品采集模块采集大气颗粒物的滤膜样品；通过样品扫描模块对滤膜样品和标尺同时进行扫描，得到清晰的图片；再通过图像分析显示模块对图像以像素为单位进行测量并显示。本装置实现了对大量滤膜进行测量研究，并发现滤膜的实际面积和沉积面积与定义值都存在偏差，并且观察到滤膜上颗粒物沉积存在不均匀性。利用本装置可以准确的获得一些难以用传统方法测量的颗粒物沉积面积。
基本信息
专利标题 ：
一种精确测定大气颗粒物采样膜沉积面积的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021078532.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-11
授权号 ：
CN212133590U
授权日 ：
2020-12-11
发明人 ：
吴晟孙嘉胤吴兑李梅周振梁粤成春雷程鹏
申请人 ：
暨南大学
申请人地址 ：
广东省广州市天河区黄埔大道西601号
代理机构 ：
广州市华学知识产权代理有限公司
代理人 ：
詹丽红
优先权 ：
CN202021078532.4
主分类号 ：
G01B11/28
IPC分类号 ：
G01B11/28 G01N15/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/275
••用于检测轮子准直度
G01B11/28
用于计量面积
法律状态
2020-12-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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