一种放射性粒子外观质量检测与分选的装置

授权

摘要

本实用新型涉及一种放射性粒子外观质量检测与分选的装置，包括用于供应放射性粒子的振动系统，用于判断振动系统中放射性粒子信息的感应系统，设置有升降系统的擒纵系统，用于放射性粒子外观质量检测的检测系统，用于收集合格品的第一卸料台以及用于收集不合格品的第二卸料台，该装置还包括安装在操作箱内的控制系统；在控制系统的控制下，擒纵系统在升降系统的配合下依次完成从振动系统吸取放射性粒子、将被吸取的放射性粒子转移至检测系统检测外观质量是否合格，将经过检测的放射性粒子按照合格品和不合格品分别释放到对应的收集瓶中。该装置能够自动化的完成放射性粒子的外观质量检测与分选，生产效率高，并且不会损坏放射性粒子。

基本信息

专利标题：

一种放射性粒子外观质量检测与分选的装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021078818.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-12

授权号：

CN212576903U

授权日：

2021-02-23

发明人：

张雪峰李忠勇刘子豪高惠波

申请人：

原子高科股份有限公司

申请人地址：

北京市海淀区西三环北路21号北楼7层701

代理机构：

北京天悦专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

任晓航

优先权：

CN202021078818.2

主分类号：

B07C5/34

IPC分类号：

B07C5/34 B07C5/36 B07C5/02