一种蓝宝石晶向高精度自动测量角度装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种蓝宝石晶向高精度自动测量角度装置,包括工作台和闪烁探测器,所述工作台顶端一侧固定设有X射线发生器,所述工作台顶端另一侧固定设有角度仪,所述X射线发生器上设置有X光闸,所述闪烁探测器通过连接块固定设置在所述角度仪上,且所述闪烁探测器位于所述X射线发生器对侧,所述闪烁探测器与所述X射线发生器对应电信号连接,所述角度仪顶端设有升降机构,所述升降机构顶端设有转动电机,所述转动电机的输出端连接有转杆。有益效果:提前拉动圆杆,使其伸缩弹簧缩短,从而将被测晶片放在陶瓷板之间,用手扶持,再通过伸缩弹簧复位伸长,从而两个陶瓷板夹紧被测晶,同时也便于拆卸。

基本信息
专利标题 :
一种蓝宝石晶向高精度自动测量角度装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021104154.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-16
授权号 :
CN212568549U
授权日 :
2021-02-19
发明人 :
李浩瀚
申请人 :
深圳市蓝宝源光电科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室
代理机构 :
北京万贝专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
马红
优先权 :
CN202021104154.2
主分类号 :
G01N23/20
IPC分类号 :
G01N23/20  G01N23/20008  G01N23/20025  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
法律状态
2021-02-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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