膜片检测台
授权
摘要

本实用新型涉及一种膜片检测台,包括框架、设置在所述框架上的检测平台和照射机构,所述照射机构包括位于所述检测平台下方的照射灯,所述照射机构还包括与所述框架连接的支架,所述照射灯设置在所述支架上,所述支架包括与所述框架相接的第一连杆和与所述第一连杆相接的第二连杆,所述第二连杆可相对所述框架上下移动,所述照射灯设置在所述第二连杆上方并随所述第二连杆同步移动。本实用新型的照射灯可上下调节,根据实际需要将其靠近或者远离检测平,使之调节到最佳照射距离,以达到控制照射强度的目的,同时也能够有效保护检测人员的眼睛。

基本信息
专利标题 :
膜片检测台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021110170.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-16
授权号 :
CN212540176U
授权日 :
2021-02-12
发明人 :
苏开伟
申请人 :
苏州极滤净化科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市苏州工业园区胜浦兴浦路200号联东U谷
代理机构 :
苏州谨和知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
叶栋
优先权 :
CN202021110170.2
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2021-02-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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