一种电路板老化测试架
授权
摘要

本实用新型公开了一种电路板老化测试架,包括面板,所述面板上设有一方形口,方形口的两侧面上均设有一滑槽,滑槽中均活动安装有一块以上的滑块,横向相对的滑块之间均安装有导电杆,导电杆上均套有套管,套管的顶面上均安装有与电路板上通电孔插接的导电柱,套管下端分别安装有正负电线,导电杆位于套管的两侧均套有橡胶套,橡胶套一端均安装于套管的端面上,另一端均安装于滑块上,面板的表面上安装有一条以上的调节机构。本实用新型结构简单,能根据电路板的大小调整压板之间的距离,从而能装配上不同大小的电路板上,同时能根据电路板上通电孔的位置调整导电柱的位置,使得在电路板放入后,导电柱能直接的插入通电孔中,能直接的进行通电。

基本信息
专利标题 :
一种电路板老化测试架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021111825.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-16
授权号 :
CN212483775U
授权日 :
2021-02-05
发明人 :
黄财仙
申请人 :
深圳市顺天祥电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区沙井街道圳头路3号A栋2楼
代理机构 :
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 :
鲍敬
优先权 :
CN202021111825.8
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-02-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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