开盖检测装置和打印机
授权
摘要
本申请的目的是提供一种开盖检测装置和打印机，该开盖检测装置用于打印机的开盖检测，包括设置于打印件活动上盖底部的定位柱，以及设置于打印机基座上的磁传感器，所述定位柱上设置有磁性件，所述磁性件对应于所述磁传感器。该打印机包括上述开盖检测装置。本申请有效的避免了开关的损坏而造成机器不能正常工作，避免了机盖在操作过程中直接撞击电子原器件，提高了机器的可靠性和节约了大量的售后使用成本。
基本信息
专利标题 ：
开盖检测装置和打印机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021124529.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-17
授权号 ：
CN212060600U
授权日 ：
2020-12-01
发明人 ：
蒋武靖
申请人 ：
上海芝柯智能科技有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区秀浦路3999弄6号101室
代理机构 ：
上海国智知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
潘建玲
优先权 ：
CN202021124529.1
主分类号 ：
G01V3/00
IPC分类号 ：
G01V3/00 B41J29/13 B41J2/315
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V3/00
电或磁的勘探或探测；；地磁场特性的测量；例如，磁偏角或磁偏差
法律状态
2020-12-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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