一种长波红外多普勒差分干涉仪冷光学系统
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摘要

本实用新型提供了一种长波红外多普勒差分干涉仪冷光学系统,解决现有干涉仪在非低温下工作时,光学系统的背景热辐射产生噪声影响成像效果的问题。该系统包括光学系统、低温真空杜瓦系统、对置式斯特林制冷系统、金属波纹管及探测系统;低温真空杜瓦系统包括真空杜瓦及设在真空杜瓦内的防辐射屏罩、支撑板、导热板及多个绝热支撑柱;防辐射屏罩和光学系统均设在导热板上;对置式斯特林制冷系统的冷指穿过真空杜瓦、防辐射屏罩与导热板连接;金属波纹管一端固定在真空杜瓦上,另一端连有连接盘;探测系统包括固定在真空杜瓦外壁上探测器安装支架和通过二维精密调整台设在探测器安装支架上的探测器,且探测器的冷屏连接于连接盘的中心孔处。

基本信息
专利标题 :
一种长波红外多普勒差分干涉仪冷光学系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021148540.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-19
授权号 :
CN212364047U
授权日 :
2021-01-15
发明人 :
张兆会韩斌畅晨光武俊强郝雄波孙剑冯玉涛胡柄樑
申请人 :
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 :
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 :
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 :
董娜
优先权 :
CN202021148540.1
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2021-01-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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