具有抗杂光干扰结构的光学生物特征感测器
授权
摘要
一种具有抗杂光干扰结构的光学生物特征感测器，至少包括：一感测基板，具有相邻的一第一光感测元及一第二光感测元；一光模组层，至少包括：一遮光层，位于感测基板上，并包括相邻的一第一光孔及一第二光孔；以及一透光支撑层，位于遮光层上及第一光孔与第二光孔中；及多个微透镜，位于光模组层上。所述微透镜包括相邻的一第一微透镜及一第二微透镜，第一微透镜将来自一物体的一正向光聚焦通过光模组层及第一光孔而到达第一光感测元，遮光层具有一预定厚度，使得来自物体的一斜向光通过第二微透镜及光模组层而打在遮光层上，但不会进入第一光孔及第一光感测元中。本申请能够利用增厚的遮光层来达成防止杂光干扰的效果。
基本信息
专利标题 ：
具有抗杂光干扰结构的光学生物特征感测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021156575.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-19
授权号 ：
CN212783451U
授权日 ：
2021-03-23
发明人 ：
周正三范成至
申请人 ：
神盾股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台北市
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
王涛
优先权 ：
CN202021156575.X
主分类号 ：
H01L27/146
IPC分类号 ：
H01L27/146 G06K9/00
法律状态
2021-03-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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