一种温度冲击箱
授权
摘要
本实用新型公开了一种温度冲击箱，涉及电子实验设备的技术领域。其技术要点是：包括箱体，所述箱体的一侧的侧面开设有门体，所述箱体与所述门体相对的侧面上滑动连接有滑动板，所述滑动板一端设有滑动机构，所述箱体上与所述门体相对的一侧设有加热装置与制冷装置，所述加热装置与所述制冷装置的放置方向与所述滑动板的滑动方向平行。本装置设置滑动机构带动滑动板在加热装置与制冷装置之间移动，通过改变滑动板位置从而改变加热装置及制冷装置与箱体之间的连通状态，从而控制箱体内的温度，使得对芯片检测时不需移动芯片，提高工作过程中的稳定性。
基本信息
专利标题 ：
一种温度冲击箱
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021158590.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-19
授权号 ：
CN212758653U
授权日 ：
2021-03-23
发明人 ：
孟沛泽
申请人 ：
北京华芯微半导体有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区上地信息路1号国际科技创业园2号楼1703
代理机构 ：
北京维正专利代理有限公司
代理人 ：
孙铭侦
优先权 ：
CN202021158590.8
主分类号 ：
B01L1/00
IPC分类号 ：
B01L1/00 B01L7/00 G01N3/60
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B01
一般的物理或化学的方法或装置
B01L
通用化学或物理实验室设备
B01L1/00
外壳；腔室
法律状态
2021-03-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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