适用于测量坩埚外圆跳动的自动定位机构
授权
摘要
本实用新型涉及机械技术领域。适用于测量坩埚外圆跳动的自动定位机构，其特征在于，包括一底座；还包括用于顶起坩埚中央的坩埚顶起机构，所述坩埚顶起机构的顶部为用于接触坩埚的顶块，所述顶块的上表面为外凸曲面，所述坩埚顶起机构安装在所述底座上；还包括用于夹紧坩埚的坩埚夹紧机构，所述坩埚夹紧机构安装在所述底座上，且所述坩埚夹紧机构包括周向排布的至少两个夹紧组件，所述坩埚顶起机构位于所有的夹紧组件的中央处；还包括一用于测量坩埚外圆跳动的测量机构，所述测量机构安装在所述底座或者所述夹紧组件上。本专利实现了坩埚中心的定位。
基本信息
专利标题 ：
适用于测量坩埚外圆跳动的自动定位机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021165174.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-22
授权号 ：
CN212363090U
授权日 ：
2021-01-15
发明人 ：
谢金谷贺贤汉邵勇冯博
申请人 ：
上海汉虹精密机械有限公司
申请人地址 ：
上海市宝山区宝山城市工业园区山连路188号
代理机构 ：
上海申浩律师事务所
代理人 ：
陆叶
优先权 ：
CN202021165174.0
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 B25B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2021-01-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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