自动化高精度多工位测试设备
授权
摘要
本实用新型涉及电子元器件测试设备技术领域,尤其涉及一种自动化高精度多工位测试设备,包括工作台、设置于工作台上的下压机构、设置于工作台上的扫描枪机构、多个用于连接被测器件并导出测试信号的探针模组、用于带动探针模组转动的转盘机构;下压机构,用于下压被测器件并实现被测器件与探针模组相连接;扫描枪机构,用于扫描被测器件二维码信息;探针模组通过转盘机构转动连接于工作台上;本实用新型能够同时对多个被测器件进行检测,能够减少工作人员的劳动强度、提升检测效率,能够提高检测的精准性。
基本信息
专利标题 :
自动化高精度多工位测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021189696.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-23
授权号 :
CN212808355U
授权日 :
2021-03-26
发明人 :
曾石根曹祥李猛志张磊
申请人 :
深圳市微特自动化设备有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市光明新区公明街道上村莲塘工业城C区21栋一楼
代理机构 :
东莞市十方专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
罗伟平
优先权 :
CN202021189696.4
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R31/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-03-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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