一种元器件综合检测仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种元器件综合检测仪，包括机壳,所述机壳一侧设有测试面板，所述测试面板顶部一端设有显示电源和工作电源，所述测试面板一端设有综合信号、模拟输入、模拟输出和模拟信号，所述测试面板中部设有测试通道，且测试通道共设有三个，所述测试面板另一端设有测试电源和测试信号灯。元器件综合检测仪主机内部的硬件电路大量采用CPLD可编程高集成技术，具有80路数字通道/160路VI曲线通道/28路模拟功能通道，多路可扩展端子通道，配合系统软件检测程序。能够针对元器件特定失效模式专门构建具体型号的筛选模型，从而建立大量元器件筛选库，对各种电子元器件提供有效便捷的检测手段。
基本信息
专利标题 ：
一种元器件综合检测仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021196667.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-24
授权号 ：
CN212781024U
授权日 ：
2021-03-23
发明人 ：
余江湖
申请人 ：
深圳市欣同达科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区华兴路上横朗第二工业区4号201
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021196667.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-03-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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