一种高精度屏下指纹芯片多单元模块测试结构

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摘要

本实用新型公开了一种高精度屏下指纹芯片多单元模块测试结构，具体涉及指纹芯片测试技术领域，包括测试线路板，所述测试线路板上表面固定设有线路补强板，所述测试线路板上还设有将线路补强板罩住的测试板补强圈，所述测试线路板下表面固定设有垂直部件底板，所述垂直部件底板固定设有定位柱，所述垂直部件底板底部设有与定位柱连接的垂直下基板和垂直上基板。本实用新型通过设有测试板补强圈和线路补强板，测试线路板通过螺丝固定到测试板补强圈上，防止测试线路板进行安装测试时测试线路板发生翘起现象，线路补强板是为了二次加强和保证测试线路板中心指纹芯片曲型探针测试区域平整度及强度。

基本信息

专利标题：

一种高精度屏下指纹芯片多单元模块测试结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021224084.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-29

授权号：

CN212622928U

授权日：

2021-02-26

发明人：

卞学礼刘通徐立华

申请人：

沈阳圣仁电子科技有限公司

申请人地址：

辽宁省沈阳市浑南区飞云路20-2号（501）

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202021224084.4

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04 G01R1/02