一种用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具
授权
摘要

本实用新型涉及检测工具技术领域,具体来说是一种用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具,第一测量座和第二测量座对称设置于定位座的两侧,定位座上设有基准平面,基准平面在设有第一测量座和第二测量座的两侧对称设有定位槽,检具底座上对应于所述的定位槽设有定位孔;第一测量座和第二测量座分别设有通孔,通孔与所述的基准平面之间的竖直高度差与产品的被测孔的要求位置相适应。本实用新型所结构简洁小巧、使用便捷,且检测周期短,在加工过程中,现场检验人员能够有效及时地通过孔位置度检具来检测孔位置度,有助于缩短检验时间、降低成本、提高现场检测的快速反应、保证产品良率,并减少因孔位置度不合格而导致的组装不良。

基本信息
专利标题 :
一种用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021241816.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-30
授权号 :
CN212133508U
授权日 :
2020-12-11
发明人 :
王杰戴猛王喜涛
申请人 :
赫比(上海)金属工业有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区祝桥镇金闻路96号2-6幢;100号1幢3层,2幢2-3层;102号1幢1层B区3层B区,2幢1-3层B区,3幢
代理机构 :
上海三方专利事务所(普通合伙)
代理人 :
吴玮
优先权 :
CN202021241816.0
主分类号 :
G01B5/00
IPC分类号 :
G01B5/00  G01B5/08  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2020-12-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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