一种无损检测设备
专利权的终止
摘要
本实用新型提供一种无损检测设备,包括顶盒,顶盒的内部电性连接有风机,风机的正下方卡接有卡罩,卡罩的底部电性连接有扫描结构,顶盒的顶部开设有散热口,顶盒的底部固定连接有主体,主体的内部固定连接有固定块,固定块的侧面卡接有卡杆,卡杆远离固定块的一端卡接有转板,主体的一侧开设有入口,主体的另一侧开设有出口,出口的内侧电性连接有光电开关,出口的外侧向外延伸三公分处卡接有卡斗,卡斗的内侧粘接有防滑条,本实用新型通过设置的顶盒、卡板、转板和卡都,解决了现有检测设备在物品滑出设备时不便于减慢物品滑出的速度导致物品滑出设备掉落地面损坏的几率增大、现有检测设备运行时的能耗较大导致设备使用寿命短的问题。
基本信息
专利标题 :
一种无损检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021245115.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-29
授权号 :
CN212514332U
授权日 :
2021-02-09
发明人 :
张亮
申请人 :
南昌航空大学
申请人地址 :
江西省南昌市丰和南大道696号
代理机构 :
上海思牛达专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
雍常明
优先权 :
CN202021245115.4
主分类号 :
G01N23/02
IPC分类号 :
G01N23/02 G01V5/00 B65G15/30 B65G43/08 B65G47/82 H05K7/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
法律状态
2022-06-14 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 23/02
申请日 : 20200629
授权公告日 : 20210209
终止日期 : 20210629
申请日 : 20200629
授权公告日 : 20210209
终止日期 : 20210629
2021-02-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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