一种电子元件测试用的调节装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种电子元件测试用的调节装置,包括底板,底板的上表面对称开设有第一滑槽,第一滑槽上设有第一滑块,第一滑块的顶部设有支撑板,支撑板上开设有第二滑槽,第二滑槽上设有第二滑块,第二滑块之间固定连接有固定架,支撑板上的一侧设有支架,支架的中部设有限位杆,限位杆上设有第一固定块,支架上设有第二固定块,第一固定块和第二固定块之间设有液压杆,支撑板上设有散热槽。本实用新型利用第一滑槽、第一滑块、支撑板、固定架的配合,便于圆柱型元件测试,利用支架、限位杆、第一固定块、和液压杆的配合,便于对平面型元件测试,利用空腔和散热槽的配合,便于测试过程中的散热,提高元件测试效率。
基本信息
专利标题 :
一种电子元件测试用的调节装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021248029.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-30
授权号 :
CN212058897U
授权日 :
2020-12-01
发明人 :
梁雁华
申请人 :
梁雁华
申请人地址 :
广东省广州市白云区白云棠安路81号702房
代理机构 :
广州文衡知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王英环
优先权 :
CN202021248029.9
主分类号 :
G01D21/02
IPC分类号 :
G01D21/02 G01B21/20 H05K7/20 B25B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01D
非专用于特定变量的测量;不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置;计费设备;非专用于特定变量的传输或转换装置;未列入其他类目的测量或测试
G01D21/00
未列入其他类目的测量或测试
G01D21/02
用不包括在其他单个小类中的装置来测量两个或更多个变量
法律状态
2020-12-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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