一种同轴检测机构
授权
摘要

本发明提供一种同轴检测机构,包括支架、底座、检测单元和工件载台,支架通过X轴双导轨组件活动的设置在底座的两侧,支架为铝合金型材框架,检测单元包括射线源和平板接收器,射线源通过双导轨组件活动的设置在一侧支架上,平板接收器通过双导轨组件活动的设置在与射线源相对一侧的支架上;工件载台通过Y轴双导轨组件活动的设置在X轴双导轨组件上,可进行相对Y轴双导轨组件的圆周运动,X轴双导轨组件、Y轴双导轨组件可分别带动工件载台进行水平横向、纵向的平移运动;工件载台位于射线源与平板接收器的中间,三者的中心连线在一条直线上。本发明中射线源和平板探测器能够手动调节距离,与工件载台实现三轴联动,自由度高,适用性强。

基本信息
专利标题 :
一种同轴检测机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021253688.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-01
授权号 :
CN212646534U
授权日 :
2021-03-02
发明人 :
林宇
申请人 :
昆山易方达精密仪器有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市昆山市开发区富春江路1299号6号房
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021253688.1
主分类号 :
G01N23/083
IPC分类号 :
G01N23/083  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/05
利用中子
G01N23/083
辐射是X射线
法律状态
2021-03-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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